OMI-2H
Ta strona nie jest obecnie dostępna w Twoim języku. Możesz zapoznać się z tłumaczeniem automatycznym, korzystając z usługi Google Translate. Nie jesteśmy odpowiedzialni za świadczenie tej usługi, ani też wyniki tłumaczenia nie były przez nas sprawdzane.
About OMI-2HThe OMI-2H optical interface utilises a revised state-of-the-art modulated optical transmission method, therefore offering the highest level of resistance to light interference. OMI-2H has been specifically designed for use in twin probing applications, therefore it communicates with both a spindle probe and an OTS table probe, or two spindle probes, and gives visual indication of the activated device. The OMI-2H has been designed with the bare minimum of I/O. The only output being probe status. There is no user configuration present, specify and use with caution. Compatible probesOMI-2H can be used with any combination of the following new generation probes. Flexible twin probe system configurations, using one receiver and two probes, can provide an easily integrated solution for most on-machine inspection applications. Component setting/inspection : New! OMP40-2, OMP60, OMP400 Tool setting/inspection : New! OTS OMI-2H specification
Order information
Marketing literatureInstallation & users guideNastępne krokiSkontaktuj się z nami online, jeżeli potrzebujesz więcej informacji lub masz zapytanie o cenę bądź, alternatywnie, chciałbyś rozmawiać bezpośrednio ze swym lokalnym biurem Renishaw. |